日本三区精品视频在线观看-少妇放荡的呻吟干柴烈火韩剧-日本少妇熟女一区二区-久久香蕉久久香蕉久久

移動端

公眾號
手機站
廣告招租
您現(xiàn)在的位置:儀器網(wǎng)>技術(shù)中心>橢偏儀的發(fā)展展望

直播推薦

更多>

企業(yè)動態(tài)

更多>

推薦展會

更多>

歡迎聯(lián)系我

有什么可以幫您? 在線咨詢

橢偏儀的發(fā)展展望

   2019年06月06日 14:35  
   【儀器網(wǎng) 產(chǎn)品文庫】橢偏儀是一種用于探測薄膜厚度、光學常數(shù)以及材料微結(jié)構(gòu)的光學測量儀器。
  
  橢偏儀發(fā)展展望
  
  橢偏測量具有非接觸性、非破壞性、測量精度高和適于測量較薄膜層的特點,成為了半導體工業(yè)常用的薄膜測量工具。由于半導體制造業(yè)在器件關(guān)鍵尺寸上的測量要求越來越,薄膜常用材料日益多樣化,薄膜的結(jié)構(gòu)越來越復雜,需要進一步改進橢偏儀。目前橢偏儀的主要發(fā)展趨勢包括:
  
  1、尋找較高強度的紅外光源,拓寬橢偏儀的光譜范圍,以準確確定異質(zhì)結(jié)構(gòu)的多層膜結(jié)構(gòu);
  
  2、建立包含成像橢偏儀的校準因素的系統(tǒng)模型,以減小成像橢偏儀的測量誤差;
  
  3、對半導體工業(yè)常用薄膜材料建立準確的物理模型,以減小系統(tǒng)的計算誤差;
  
  4、引入能夠同步進行數(shù)據(jù)獲取和數(shù)據(jù)處理的控制系統(tǒng),并利用優(yōu)化算法,較快得出薄膜系統(tǒng)待求參量,以提高橢偏儀的測量速度,增強橢偏儀的在線檢測和控制功能。

免責聲明

  • 凡本網(wǎng)注明“來源:儀器網(wǎng)”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡(luò)有限公司-儀器網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品,未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的,應在授權(quán)范圍內(nèi)使用,并注明“來源:儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者,本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責任。
  • 本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來源(非儀器網(wǎng))的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點和對其真實性負責,不承擔此類作品侵權(quán)行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時,必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源,并自負版權(quán)等法律責任。
  • 如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題,請在作品發(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。
推薦產(chǎn)品
浙公網(wǎng)安備 33010602002722號
企業(yè)未開通此功能
詳詢客服 : 0571-87858618