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GD-Profiler 系列輝光放電光譜儀

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具體成交價以合同協(xié)議為準

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超快元素深度分布分析工具

詳細信息 在線詢價

  RF射頻發(fā)生器- 標準配置,可進行元素總量分析,分析時間約
   為90秒,分析速度比其他表面分析技術快上100倍;濺射率一般
   為3µm/min;
  實現(xiàn)從1nm至深達150µm的元素深度分布分析;
  射頻輝光放電光譜的靈敏度為10  原子/cm ;
  一次激發(fā)可以同時分析所有元素(包括H, O, Cl等) ;
脈沖射頻設計的光源為導體、非導體、薄膜、涂層、合金、陶瓷、
   粉末等類型的物質提供了廣闊的分析應用前景;
多道(同時)型光學系統(tǒng)可全譜覆蓋,光譜范圍:110nm至800nm,包含遠紫外;
低至0.3L/分鐘的氬氣消耗降低了分析成本;
*的單色儀(選配件)可*的提高儀器的靈活性,即能實現(xiàn)n+1通道分析;
HDD  檢測器可進行快速而高靈敏的檢測,動態(tài)范圍達到10個量級;
寬大的樣品室方便各類樣品的加載;
激光指點器(CenterLite laser pointer,申請中)可用于精確加載樣品。

本公司現(xiàn)貨產品

    

                  

    

        

         美國華瑞PGM-2400 四合一復合式氣體檢測儀     HT10S煙氣黑度照相測定儀     

PPMhtv甲醛檢測儀       

            

     

      

   

  

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